Фотогальваника: Трещины в модулях, горячие точки и ФИД-эффекты — три важных фактора, влияющих на работу фотогальванических модулей из кристаллического кремния. Сегодня я покажу вам причины трещин в клетках, как их выявить и предотвратить.
1. Формирование и классификация трещин в фотоэлектрических модулях
Cracks are a relatively common defect in crystalline silicon photovoltaic modules. In layman's terms, they are micro-cracks that are invisible to the naked eye. Due to the characteristics of its own crystal structure, crystalline silicon components are very prone to cracking. In the process flow of crystalline silicon module production, many links may cause cell cracks. The root cause of cracks
Внешняя сила: на батарею будет воздействовать внешняя сила во время сварки, ламинирования, обрамления или обработки, тестирования и т. д. Если параметры установлены неправильно, сбой оборудования или неправильная эксплуатация могут привести к трещинам.
Высокая температура: ячейка предварительно не нагревается при низкой температуре, а затем внезапно сталкивается с высокой температурой за короткое время, а затем расширяется, что вызывает трещины, такие как чрезмерная температура сварки, необоснованная установка температуры ламинирования и других параметров.
Сырье: Дефекты сырья также являются одним из основных факторов, приводящих к растрескиванию.
По форме трещины ячейки ее можно условно разделить на 5 типов: трещина дерева, сплошная трещина, косая трещина, параллельная шине, перпендикулярная сетке и трещины, пронизывающие всю ячейку.
2. The impact of "cracking" on component performance
Ток, генерируемый кристаллическими кремниевыми солнечными элементами, в основном собирается и экспортируется шинными линиями и тонкими линиями сетки, поверхности которых перпендикулярны друг другу. Следовательно, когда трещины (в основном трещины, параллельные шинам) вызывают разрыв тонких линий сетки, ток не будет эффективно доставляться к шинам, что приводит к частичному или даже выходу из строя элемента, а также может привести к появлению мусора, горячих точек и т. д. ., в то же время вызвать ослабление мощности компонентов.
Third, the method of identifying "cracks"
EL (Электролюминесценция, электролюминесценция) — это своего рода оборудование для обнаружения внутренних дефектов солнечных элементов или компонентов, которое представляет собой простой и эффективный метод обнаружения трещин. Используя принцип электролюминесценции кристаллического кремния, изображение компонента в ближнем-инфракрасном диапазоне захватывается инфракрасной камерой с высоким-разрешением для получения и определения дефектов компонента. Он имеет преимущества высокой чувствительности, быстрой скорости обнаружения и интуитивно понятных результатов. На картинке ниже результат теста ЭЛ, на котором хорошо видны различные дефекты и трещины.
Fourth, the reasons for the formation of "cracks"
There are many factors that cause module cracks, and there are many types of cracks, but not all cracks will affect the cells, not to mention "hidden" discoloration, as long as scientific prevention can properly prevent the modules from cracking. During the production process, improper external force intervention should be avoided for the cells, and attention should be paid to the temperature range of the storage environment. During the welding process, the battery should be kept warm in advance (hand welding). The temperature of the soldering iron should meet the requirements. In the process of module production, transportation, installation and maintenance, considering the cracking characteristics of crystalline silicon modules, it is necessary to pay attention to and improve the operation process in each process of installing the power station to minimize the occurrence of module cracks.
Пять, основные моменты предотвращения трещин в фотоэлектрических модулях
In the production process and subsequent storage, transportation, and installation, avoid improper external force intervention on the battery cells, and also pay attention to the temperature change range of the storage environment.
与此原文有关的更多信息要查看其他翻译信息,您必须输入相应原文